Растровий електронний мікроскоп JEOL JSM-840 виробництва фірми JEOL (Японія), що забезпечує роздільну здатність до 3 нм. Мікроскоп оснащений системою рентгенофлуоресцентного мікроаналізу СЕЛМА ЕРС-1. Отримання зображень можливо в діапазоні прискорювальних напруг від 1 до 40 kV. У процесі модернізації морально застаріла система розгортки електронного пучка замінена пристроєм, розробленим на сучасній елементній базі. Мікроскоп оснащений оригінальною системою реєстрації зображень.
Відповідальна особа: Дукаров Сергій Валентинович, Богатиренко Сергій Іванович